伏安法測(cè)電阻實(shí)驗(yàn)的改進(jìn)

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摘  要  在用伏安法進(jìn)行電阻阻值測(cè)量時(shí)，不論是采用內(nèi)接法還是外接法，都會(huì)存在系統(tǒng)誤差。一些改進(jìn)的實(shí)驗(yàn)方案雖然可以消除系統(tǒng)誤差，但往往電路圖相對(duì)復(fù)雜或涉及相對(duì)復(fù)雜的運(yùn)算，不宜作為教學(xué)實(shí)驗(yàn)供學(xué)生學(xué)習(xí)。對(duì)伏安法測(cè)電阻實(shí)驗(yàn)進(jìn)行改進(jìn)，給出兩種簡(jiǎn)單的測(cè)量方案，同時(shí)解決原實(shí)驗(yàn)方案中存在系統(tǒng)誤差的問題。（剩余3186字）