半導體封裝測試與可靠性課程思政改革探索

打開文本圖片集

摘  要：半導體封裝測試與可靠性是面向微電子相關(guān)專業(yè)博士碩士研究生開設(shè)的專業(yè)選修課，系統(tǒng)講授集成電路發(fā)展過程中不同歷史階段出現(xiàn)的典型半導體封裝測試與可靠性技術(shù)，為學生成為微電子領(lǐng)域?qū)I(yè)研發(fā)人員打下了理論基礎(chǔ)。課程思政改革是新時期高校教育教學工作的核心內(nèi)容之一。該課程組基于半導體封裝測試與可靠性課程的專業(yè)特點，充分發(fā)掘課程中的思政元素，優(yōu)化教學內(nèi)容和教學方法，提出實施課程思政的具體措施。（剩余5675字）