淺談實(shí)驗(yàn)題的描點(diǎn)法作圖問(wèn)題

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摘 要：在實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)處理中，我們往往將實(shí)驗(yàn)中的相關(guān)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為坐標(biāo)點(diǎn)，并通過(guò)對(duì)多個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)的直觀認(rèn)知作出圖線，以發(fā)現(xiàn)規(guī)律。本文以電學(xué)實(shí)驗(yàn)中的U-I圖線問(wèn)題為例，闡述了兩種不同版本教材上的作圖方法、對(duì)相關(guān)問(wèn)題的思考分析以及教學(xué)建議。

關(guān)鍵詞：實(shí)驗(yàn)題；描點(diǎn)作圖；圖像分析

1 問(wèn)題情境

例題 在“測(cè)量金屬絲的電阻率”的實(shí)驗(yàn)中，所用測(cè)量?jī)x器均已校準(zhǔn)。（剩余2755字）