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掃描電子顯微鏡對于表面截面同時需求類樣品的測試方案研究

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摘 要：本文針對在掃描電子顯微鏡測試中具備表面和截面雙重需求，同時屬于塊體或薄膜狀、需避免損壞的弱導(dǎo)電性樣品提供一種簡單而高效的測試方案。該方案可以減少金屬噴涂的次數(shù)和資源損耗，并有效地防止在樣品制備和測試過程中對樣品造成損害。通過這一方案，我們旨在提高測試的效率和準確性，為掃描電子顯微鏡分析提供更為可靠的樣品測試方法。（剩余3849字）

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