基于Keras框架的普朗克常數(shù)計(jì)算方法研究

摘要：光電效應(yīng)實(shí)驗(yàn)是物理學(xué)習(xí)過程中的一個(gè)重要實(shí)驗(yàn)，通過光電效應(yīng)實(shí)驗(yàn)可以對(duì)普朗克常數(shù)進(jìn)行計(jì)算。當(dāng)數(shù)據(jù)量較少時(shí)，計(jì)算結(jié)果和真實(shí)值之間往往存在較大誤差。隨著機(jī)器學(xué)習(xí)和人工智能的快速發(fā)展，物理數(shù)值計(jì)算也可以使用不同的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)框架進(jìn)行解決。文章介紹了光電效應(yīng)方程對(duì)普朗克常數(shù)計(jì)算的理論依據(jù)，采用深度學(xué)習(xí)的Keras框架對(duì)110個(gè)數(shù)據(jù)樣本進(jìn)行了不同批次訓(xùn)練，研究了損失函數(shù)對(duì)普朗克常數(shù)計(jì)算精度的影響。（剩余5781字）