基于近場電磁掃描系統(tǒng)的電磁超透鏡實(shí)驗(yàn)表征

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摘 要 透鏡是光學(xué)實(shí)驗(yàn)中常見的元件，也是成像系統(tǒng)中必不可少的一環(huán)。然而隨著集成成像等新型光學(xué)成像技術(shù)的發(fā)展，傳統(tǒng)光學(xué)透鏡因其體積大等劣勢難以實(shí)現(xiàn)微型化和集成化。近年來，超透鏡作為平面光學(xué)元件，通過設(shè)計(jì)亞波長尺寸的單元結(jié)構(gòu)可以實(shí)現(xiàn)對光的偏振、振幅、相位等方面的調(diào)控，這些獨(dú)特的光學(xué)特性也使超透鏡成為了近些年來微納光學(xué)領(lǐng)域的研究熱門。（剩余125字）