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SOC可測性設(shè)計的優(yōu)化理論研究

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摘要：隨著現(xiàn)代電子技術(shù)的飛速發(fā)展，系統(tǒng)級芯片（System on a Chip，SOC）已成為各種電子系統(tǒng)中的核心組件。作為一種高度集成的電路，SOC實現(xiàn)了許多原本需要大量獨立組件才能實現(xiàn)的功能。在傳統(tǒng)的電子系統(tǒng)中，電路的設(shè)計和制造通常是由不同的團(tuán)隊獨立完成的，這種分離的操作方式導(dǎo)致了很多問題，如測試成本高、測試時間長等。（剩余5070字）

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