電工電子產(chǎn)品質(zhì)量提升

——環(huán)境可靠性試驗剖面圖設(shè)計的研究

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【摘要】隨著電工電子產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于現(xiàn)代社會，產(chǎn)品質(zhì)量的提升就體現(xiàn)在其性能和可靠性方面的高要求。產(chǎn)品質(zhì)量的提升依托粵品通技術(shù)服務(wù)平臺，充分發(fā)揮“工業(yè)產(chǎn)品醫(yī)院”機構(gòu)的技術(shù)性、服務(wù)性，不斷提高產(chǎn)品可靠性。環(huán)境可靠性試驗是評估產(chǎn)品在不同環(huán)境條件下的穩(wěn)定性和可靠性的一種試驗方法，是產(chǎn)品質(zhì)量提升的關(guān)鍵步驟。本論文旨在提出電工電子產(chǎn)品環(huán)境可靠性試驗剖面圖設(shè)計的方法。（剩余7656字）