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摘 要:隨著模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器(ADC)靜態(tài)參數(shù)測(cè)試技術(shù)越來(lái)越成熟,硅成本呈下降趨勢(shì),ADC測(cè)試成本逐步上升,導(dǎo)致ADC的靜態(tài)參數(shù)測(cè)試也將更具挑戰(zhàn)性。在ADC靜態(tài)參數(shù)測(cè)試中輸入刺激是影響測(cè)量結(jié)果精度的決定因素。因此針對(duì)如何更好地獲取有效輸入刺激,該文提出一種基于高精度ADC對(duì)比檢驗(yàn)法。通過(guò)獲取高精度ADC和待測(cè)ADC的輸入刺激的輸出差值,根據(jù)差值服分布確定異常數(shù)字碼范圍,判別無(wú)效輸出碼并去除相應(yīng)輸入刺激計(jì)算出待測(cè)ADC靜態(tài)參數(shù)。(剩余7244字)
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