電子產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)技術(shù)研究現(xiàn)狀與展望

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摘  要：隨著電子產(chǎn)品之間的競(jìng)爭(zhēng)愈演愈烈，其產(chǎn)品的可靠性水平將越來(lái)越受人們關(guān)注。可靠性試驗(yàn)是檢驗(yàn)產(chǎn)品可靠性水平的重要手段，其多種類型的可靠性試驗(yàn)技術(shù)可以從產(chǎn)品設(shè)計(jì)、物料選擇、制造工藝和批量生產(chǎn)等環(huán)節(jié)為產(chǎn)品提供技術(shù)支撐。該文論述電子產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)的基本概況，詳細(xì)闡明可靠性研制試驗(yàn)、環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)、壽命試驗(yàn)、可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)和可靠性仿真試驗(yàn)的研究進(jìn)展，同時(shí)展望可靠性加速試驗(yàn)和可靠性強(qiáng)化試驗(yàn)這2種可靠性試驗(yàn)新技術(shù)的發(fā)展前景，并提出促進(jìn)可靠性試驗(yàn)新技術(shù)應(yīng)用的解決方案，為業(yè)界提供參考。（剩余7266字）