電子產(chǎn)品低溫試驗(yàn)?zāi)芰︱?yàn)證不滿(mǎn)意原因分析

打開(kāi)文本圖片集

摘  要：能力驗(yàn)證試驗(yàn)是用來(lái)確認(rèn)認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室相應(yīng)的試驗(yàn)?zāi)芰Φ囊豁?xiàng)重要方式，是CNAS認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室質(zhì)量控制的一種手段。低溫試驗(yàn)作為環(huán)境檢測(cè)中最常用的一種試驗(yàn)方法，是實(shí)驗(yàn)室具備環(huán)境檢測(cè)能力的重要體現(xiàn)。該文以所在實(shí)驗(yàn)室參加的低溫試驗(yàn)?zāi)芰︱?yàn)證計(jì)劃為例，對(duì)低溫試驗(yàn)的基本標(biāo)準(zhǔn)要求進(jìn)行簡(jiǎn)單闡述，并對(duì)實(shí)驗(yàn)室的能力驗(yàn)證評(píng)價(jià)結(jié)果進(jìn)行詳細(xì)分析，給出把控低溫試驗(yàn)全過(guò)程的技術(shù)建議，提高實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)測(cè)試能力，以期為業(yè)界提供一定參考。（剩余6878字）