高分子薄膜表面缺陷檢測系統(tǒng)的照明方案設(shè)計

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摘要：闡述了高分子薄膜表面存在的缺陷類型及其可能造成的危害，著重介紹了工業(yè)視覺檢測系統(tǒng)中光源對高分子薄膜表面缺陷特征成像的影響。為尋求能夠最大程度呈現(xiàn)高分子薄膜表面缺陷特征的光源照明方案，通過分析高分子薄膜的光學(xué)特性和專用光源的相關(guān)特性，結(jié)合高分子薄膜表面缺陷的特點，設(shè)計了多組光源方案對比實驗。實驗結(jié)果顯示，僵塊和黑點類缺陷在紅色、白色和綠色LED光源以正向背光、角度背光和側(cè)向角度等照射方式均能較好地呈現(xiàn)特征；條紋和死皺類缺陷受光源顏色影響較小，當(dāng)光源以側(cè)向角度和角度背光照射時這兩類缺陷特征較為明顯，而以正向背光照射時幾乎沒有特征呈現(xiàn)；活皺缺陷僅在綠色光源以角度背光照射時特征較為清楚。（剩余9275字）