基于KNN?XGBOOST堆疊模型在PCB RFID天線阻抗預(yù)測的研究

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摘  要： 針對傳統(tǒng)的天線仿真建模過程中需要的天線阻抗耗時長問題，文中提出一種基于KNN?XGBOOST模型的天線阻抗預(yù)測方法?，F(xiàn)有研究大多為單一預(yù)測算法，旨在通過對比尋求預(yù)測效果更優(yōu)的算法。首先通過ANSYS仿真軟件收集大量的PCB RFID天線阻抗設(shè)計數(shù)據(jù)，然后結(jié)合影響阻抗中天線長度和頻率共8個有效特征，以KNN和XGBOOST兩種算法作為基模型，線性回歸作為元模型，構(gòu)建了一個堆疊集成學(xué)習(xí)模型。（剩余11927字）