溫濕度對LTO5磁帶存儲數(shù)據(jù)可讀性影響試驗分析

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摘  要：本文以5種主流品牌LTO5磁帶為研究對象，參照DA/T 83—2019 檔案數(shù)據(jù)存儲用LTO磁帶應(yīng)用規(guī)范，通過溫濕度老化試驗，較為系統(tǒng)地研究了溫濕度對LTO5磁帶數(shù)據(jù)可讀性的影響。結(jié)果表明，在相同溫度下升高相對濕度或在相同的相對濕度下升高溫度，都將使LTO5磁帶數(shù)據(jù)長期可讀性降低，且當(dāng)溫度和相對濕度同時達(dá)到較高值，磁帶數(shù)據(jù)可讀性降低的速度明顯加快。（剩余6849字）