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摘 要:對智慧電視主板進行了極限工作溫度摸底,得到主板的極限工作溫度。采用熱成像技術在常溫和高溫下對主板進行了溫度場分析,發(fā)現主板的熱薄弱環(huán)節(jié)是因高溫老化造成背光電源開關MOS失效。根據上述結果,基于加速壽命試驗原理,采用Arrhenius模型得到加速壽命試驗的加速因子。通過對主板進行溫度加速試驗并收集失效數據,對失效數據進行分析,建立了失效分布模型。(剩余6338字)
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智慧電視主板失效分布及可靠性評估研究
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