一種抗單粒子效應(yīng)的加固技術(shù)研究

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摘  要：針對(duì)數(shù)字波控電路在星載控制電路應(yīng)用中存在的單粒子翻轉(zhuǎn)效應(yīng)問題，提出了一種基于DICE單元的雙穩(wěn)態(tài)D觸發(fā)器設(shè)計(jì)改進(jìn)，設(shè)計(jì)了一種能夠抵御眾多類型單粒子翻轉(zhuǎn)效應(yīng)的D觸發(fā)器，并基于該D觸發(fā)器，結(jié)合電路級(jí)單粒子加固技術(shù)設(shè)計(jì)了一款串并轉(zhuǎn)換芯片。測試表明，采用改進(jìn)D觸發(fā)器結(jié)構(gòu)的波控芯片能夠抵御至少80 MeV的單粒子效應(yīng)事件。（剩余4407字）