基于Bi-LSTM的電子裝備故障預測方法研究

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摘 要：為提高電子裝備故障預測結果的準確性，提出一種基于Bi-LSTM的電子裝備故障預測方法。首先，在研究長短時記憶網(wǎng)絡（LSTM）的基礎上，提出將雙向長短時記憶網(wǎng)絡（Bi-LSTM）應用于電子裝備故障預測，并給出基于Bi-LSTM的故障預測方法；其次，研究了模擬電路健康度的提取方法，并以某雷達帶通濾波放大器的模擬電路為例開展基于仿真數(shù)據(jù)的故障預測研究；最后，將基于Bi-LSTM的故障預測方法應用于雷達發(fā)射機的三組狀態(tài)監(jiān)測數(shù)據(jù)中，開展基于實際數(shù)據(jù)的故障預測研究。（剩余16157字）