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摘 要: 學(xué)生T過程的核心是核函數(shù)設(shè)計(jì)以及超參數(shù)優(yōu)化,其中超參數(shù)直接影響模型的泛化能力.為提升學(xué)生T過程模型的預(yù)測(cè)精度,基于一種自適應(yīng)的貝葉斯優(yōu)化算法,實(shí)現(xiàn)對(duì)學(xué)生T過程超參數(shù)的全局優(yōu)化.以多組Benchmark問題和矩形微帶天線諧振頻率建模為仿真實(shí)例,并與多種機(jī)器學(xué)習(xí)模型進(jìn)行了對(duì)比實(shí)驗(yàn).(剩余9335字)
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貝葉斯優(yōu)化的學(xué)生T過程用于微帶天線諧振頻率建模
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