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摘要:為了提高Pt/Pb2rO3/Pt電介質電容器的儲能密度,通過熱蒸鍍和自然氧化方法在Pt/Ti/Si02/Si基板上沉積了厚度為0-10nm的Al2O3(AO)層,采用化學溶液沉積法制備Pb2rO3薄膜,研究了Al2O3層厚度對PbZrO/Al2O3(PZO/AO)異質結薄膜儲能性能的影響。結果表明:隨著AO層厚度的增加,PZO/AO異質結薄膜的擊穿電場強度逐漸增大,極化-電場電滯回線由反鐵電特征轉變?yōu)殍F電特征。(剩余4400字)
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Al2O3層厚度對Pb2rO3/Al2O3異質結薄膜儲能性能的影響
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