一種SOC芯片的SLT測(cè)試硬件系統(tǒng)設(shè)計(jì)

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摘要：文中提出了一種SOC芯片系統(tǒng)級(jí)測(cè)試的新硬件測(cè)試系統(tǒng)。新系統(tǒng)引入FPGA作為輔助測(cè)試的芯片，使用PC作為芯片分選機(jī)和測(cè)試硬件之間的媒介進(jìn)行測(cè)試，并記錄測(cè)試數(shù)據(jù)。新硬件系統(tǒng)導(dǎo)入后，使用現(xiàn)有的SOC芯片作為樣本，從測(cè)試覆蓋率、測(cè)試時(shí)間、不良分析三個(gè)方面展現(xiàn)芯片品質(zhì)管控中的收益。

關(guān)鍵詞：系統(tǒng)芯片；芯片測(cè)試；硬件設(shè)計(jì)；品質(zhì)改善

Design of an SLT Testing Hardware System for SOC Chips

NIE Zhenkun

（ Rockchip Electronics Co.， Ltd. Fuzhou 350001， Fujian， China ）

Abstract： This article proposes a new hardware testing system for system-level testing of SOC chips. The new system introduces FPGA as an auxiliary testing chip， uses PC as the medium between the chip sorting machine and the testing hardware for testing， and records the test data. After the introduction of the new hardware system， the existing SOC chips are used as samples to demonstrate the benefits of chip quality control from testing coverage， testing time， and defect analysis.

Key Words：  System chip; Chip testing; Hardware design; Quality improvement

0引言

系統(tǒng)級(jí)芯片（SOC）也稱為片上系統(tǒng)，即在一顆芯片上，集成了邏輯模塊、存儲(chǔ)模塊、模擬模塊、模數(shù)混合模塊等。（剩余3656字）