形狀記憶環(huán)氧材料漏電流抑制技術(shù)及耐輻照性能提升方法

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摘要：針對航天器空間可展開結(jié)構(gòu)用形狀記憶聚合物材料在空間輻照環(huán)境中電荷輸運(yùn)性能發(fā)生變化時易產(chǎn)生漏電流，從而造成結(jié)構(gòu)器件劣化、擊穿，甚至影響航天器正常運(yùn)行的問題，從高分子三維網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)設(shè)計角度出發(fā)，提出一種形狀記憶聚合物輻照感應(yīng)漏電流抑制方法，實(shí)現(xiàn)了形狀記憶聚合物的性能提升，能夠指導(dǎo)空間可展開結(jié)構(gòu)材料的選型和設(shè)計。（剩余17962字）