關(guān)于板級設(shè)計(jì)的晶體準(zhǔn)確度研究

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作者簡介：張清媛（1993— ），女，內(nèi)蒙古赤峰人，工程師，碩士；研究方向：電子產(chǎn)品的部件及系統(tǒng)可靠性。

摘要：電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)階段，因晶體頻率不準(zhǔn)確問題，會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品的研發(fā)周期不必要的延長，甚至?xí)绊懙匠善返馁|(zhì)量。文章主要研究的是在電子產(chǎn)品研發(fā)階段主板上晶體頻率準(zhǔn)確度的優(yōu)化方案，以晶體的實(shí)際應(yīng)用電路為參考，分析了晶體的頻率偏差規(guī)律，構(gòu)建了晶體頻率參數(shù)的測試系統(tǒng)。（剩余3976字）