半擬可微擬凸規(guī)劃的KKT型最優(yōu)性條件

打開文本圖片集

摘 要：最優(yōu)性條件在優(yōu)化問題中起著重要的作用，它為優(yōu)化算法的研究提供了重要的理論依據(jù)。眾所周知，凸規(guī)劃方面最優(yōu)性條件已比較完善。然而，由于擬凸函數(shù)性質(zhì)的特殊性，對于擬凸規(guī)劃問題解的Karush-Kuhn-Tucker（KKT）類型最優(yōu)性條件的研究相對較少。本文利用半擬可微刻畫了擬凸規(guī)劃的最優(yōu)性條件，同時研究了可行集法錐與帶半擬可微性質(zhì)的約束函數(shù)之間的關系，并證明了上述兩個結果與Greenberg-Pierskalla次微分的關系。（剩余3534字）