用于電暈檢測的日盲紫外光學系統(tǒng)設計

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關(guān)鍵詞：日盲紫外；光學設計；Zemax；公差分析

中圖分類號：TN 23 文獻標志碼：A

引言

當帶電體表面的電場強度高于其附近氣體介質(zhì)的游離強度時，介質(zhì)分子會被激發(fā)、電離，出現(xiàn)一種自持放電現(xiàn)象，俗稱電暈放電，常發(fā)生在高壓、特高壓輸電線路中[1]。電暈放電過程中產(chǎn)生的高頻電磁波會對附近的無線信號造成干擾，長期放電會造成電力系統(tǒng)巨大的能量損耗，對電站設備與輸電線路的絕緣性造成嚴重的損害。（剩余4501字）