電子元器件的老化測試分析

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【關(guān)鍵詞】電子元器件；老化測試；系統(tǒng)設(shè)計(jì)實(shí)踐；影響因素；種類

引言

伴隨現(xiàn)代科技的發(fā)展，電子產(chǎn)品與設(shè)備的復(fù)雜性越發(fā)增加，使用范圍更加廣泛。但由于長期使用與外部環(huán)境等方面的影響，電子產(chǎn)品與設(shè)備容易出現(xiàn)電子元器件老化的問題，造成其性能與可靠性的下降，因此，對電子元器件進(jìn)行老化測試，用以評價(jià)元器件在差異性條件下的工作穩(wěn)定性、使用壽命，是電子工程領(lǐng)域內(nèi)的重要課題。（剩余4815字）