電子元器件低頻電噪聲測(cè)試技術(shù)及應(yīng)用研究

【關(guān)鍵詞】電子元器件；低頻噪聲；測(cè)試

引言

電子元器件在實(shí)際中的應(yīng)用會(huì)產(chǎn)生或多或少的噪聲，以噪聲頻域特性作為依據(jù)，能夠?qū)㈦娮悠骷肼晞澐殖砂自肼暸c有色噪聲；以產(chǎn)生機(jī)制作為依據(jù)對(duì)電子器件噪聲進(jìn)行劃分，能夠?qū)⑵浞殖善胶庠肼暭胺瞧胶庠肼昜1]。噪聲大小也體現(xiàn)著產(chǎn)品的性能和運(yùn)行可靠性，所以當(dāng)前電子元器件噪聲測(cè)試方面問(wèn)題受到了相關(guān)領(lǐng)域研究人員的廣泛關(guān)注。（剩余4380字）