應(yīng)用守恒關(guān)系破解晶體缺陷的計(jì)算

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完整理想的晶體是微觀(guān)粒子按次序在空間格點(diǎn)上有規(guī)律排布的．但由于形成過(guò)程中受壓力、溫度、介質(zhì)濃度等外在條件因素的影響，晶體存在質(zhì)點(diǎn)排列不完善、不規(guī)則的偏離現(xiàn)象，稱(chēng)為晶體缺陷．有關(guān)晶體缺陷的計(jì)算經(jīng)常作為新的結(jié)構(gòu)試題情境出現(xiàn)在近年的高考中．本文例談應(yīng)用守恒關(guān)系破解晶體缺陷的相關(guān)計(jì)算，以期加深對(duì)晶體缺陷的（剩余16字）