基于紫外和紅外光譜聯(lián)合的低零值絕緣子狀態(tài)監(jiān)測技術(shù)研究

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摘 要： 單純以紫外光譜監(jiān)督的傳統(tǒng)方法無法檢測絕緣子內(nèi)部雜質(zhì)的含量和變化趨勢。為此提出基于紫外和紅外光譜聯(lián)合的低零值絕緣子狀態(tài)監(jiān)測技術(shù)，分別利用紫外光譜成像原理采集低零值絕緣子圖像，輔助紅外光譜檢測絕緣子內(nèi)部雜質(zhì)的含量和變化趨勢，并將二者采集到的光譜進(jìn)行配準(zhǔn)，獲取絕緣子紫外和紅外聯(lián)合光譜，提取低零值絕緣子的過熱特征、閃絡(luò)特征以及破損特征，并將提取的特征向量作為樣本輸入至SVM分類器中實(shí)施分類處理，以此達(dá)到對低零值絕緣子狀態(tài)實(shí)時監(jiān)測的目的。（剩余9560字）