幾何結(jié)構(gòu)對(duì) Fe 薄膜反常能斯特效應(yīng)的影響

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摘要：反常能斯特效應(yīng)（Anomalous Nernst effect ， ANE）是一種利用磁性材料進(jìn)行熱電轉(zhuǎn)換的效應(yīng)。利用磁控濺射方法在 Si 基底上沉積生長(zhǎng) Fe 薄膜，探究了薄膜的厚度及幾何尺寸對(duì)反常能斯特效應(yīng)的影響。結(jié)果表明：Fe 薄膜的厚度越小，ANE 越明顯，當(dāng)薄膜厚度增加到50 nm 以上時(shí)，ANE 趨于不變，這與 Fe 薄膜電阻率隨厚度的變化規(guī)律一致；在溫差一定時(shí)，反常能斯特電壓和 Fe 薄膜的寬長(zhǎng)比成正比，即薄膜越寬電壓信號(hào)越強(qiáng)，但在單位寬度下薄膜產(chǎn)生的反常能斯特電壓維持不變，說(shuō)明薄膜的幾何尺寸對(duì) ANE 有較大的影響。（剩余10707字）