基于深度學(xué)習(xí)的兩階段目標(biāo)檢測(cè)算法綜述

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摘要：目標(biāo)檢測(cè)是計(jì)算機(jī)視覺的重要研究方向之一，旨在準(zhǔn)確識(shí)別圖像中目標(biāo)的位置和類別，因其較高的準(zhǔn)確性，受到研究人員的廣泛關(guān)注。近年來，計(jì)算機(jī)技術(shù)快速發(fā)展，相對(duì)于傳統(tǒng)的目標(biāo)檢測(cè)算法，基于深度學(xué)習(xí)的目標(biāo)檢測(cè)算法的優(yōu)勢(shì)逐漸凸顯，該算法精度高、實(shí)時(shí)性好。本文介紹了幾種經(jīng)典的兩階段目標(biāo)檢測(cè)算法，對(duì)其優(yōu)缺點(diǎn)進(jìn)行了比較，并對(duì)未來兩階段目標(biāo)檢測(cè)算法的發(fā)展進(jìn)行了展望。（剩余5871字）