利用數(shù)據(jù)庫技術(shù)的近紅外消光法顆粒粒度測量

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摘要：為了實(shí)現(xiàn)在近紅外波段測量介質(zhì)中顆粒的粒徑，提出了一種基于消光光譜結(jié)合數(shù)據(jù)庫技術(shù)的顆粒粒徑反演方法。首先通過全散射消光的 Lambert-Beer定律計(jì)算生成與顆粒粒徑大小及分布相關(guān)的消光光譜數(shù)據(jù)庫，然后用數(shù)據(jù)庫處理算法比較數(shù)據(jù)庫中數(shù)據(jù)與實(shí)測顆粒消光光譜數(shù)據(jù)，兩者最佳吻合所對應(yīng)的數(shù)據(jù)庫中顆粒粒度及分布參數(shù)即為所求值。（剩余9133字）