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殘余應(yīng)力、晶粒尺寸對(duì)鈹納米壓入行為影響的數(shù)值分析

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摘要：通過(guò)納米壓痕和電子背散射衍射（electron backscattered diffraction，EBSD）技術(shù)獲得金屬鈹在晶粒尺度上的表面微力學(xué)行為（性能）信息，基于ABAQUS 對(duì)納米壓入過(guò)程進(jìn)行有限元模擬. 因數(shù)值模擬結(jié)果與實(shí)測(cè)信息相符合，故可獲得仿真過(guò)程的基本力學(xué)性能參數(shù). 基于得出（剩余5778字）

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