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胎兒大腦外側(cè)裂的超聲研究進(jìn)展

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摘  要:大腦外側(cè)裂(Sylvian fissure,SF)是最早出現(xiàn)于胎兒顱腦外側(cè)表面的具有重要意義的腦溝,也是形態(tài)最大、差異最明顯的腦溝。50%的外側(cè)裂異常胎兒存在腦皮質(zhì)發(fā)育畸形,給孕婦家庭及社會(huì)帶來沉重負(fù)擔(dān)。產(chǎn)前盡早篩查出胎兒外側(cè)裂異常意義重大。胎兒顱腦超聲是胎兒中樞神經(jīng)系統(tǒng)(Central nervous system,CNS)篩查的首選影像學(xué)檢查方法。(剩余14246字)

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