基于井下X射線源的密度測井儀器參數(shù)優(yōu)化設計

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摘要 ：基于實際井下X射線源參數(shù)，利用數(shù)值模擬方法研究Cs137源和X射線源密度測井在能譜、密度靈敏度和精度方面的差異；并對X射線源密度測井的能窗、屏蔽體和探測器等參數(shù)進行優(yōu)化，提出一種四探測器密度探測系統(tǒng)方案。結果表明：X射線源密度測量能窗應選取0.12～0.35 MeV；儀器結構無需增加縱向屏蔽體；為了滿足密度測井需求，近探測器源距應大于12.0 cm，遠探測器源距應設置在29～55.5 cm；通過四探測器密度探測系統(tǒng)方案可以使X射線密度測井兼顧縱向分辨率、探測深度、密度靈敏度和精度等方面的優(yōu)勢，更加適合復雜儲層評價；研究可以為X射線源密度測井儀器研發(fā)提供硬件參數(shù)指導。（剩余15072字）