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關(guān)鍵詞:集成電路測(cè)試,產(chǎn)業(yè)鏈,行業(yè)現(xiàn)狀,發(fā)展趨勢(shì),建議措施
DOI編碼:10.3969/j.issn.1002-5944.2024.013.038
0 引言
集成電路測(cè)試是通過模擬實(shí)際使用條件,圍繞測(cè)試信號(hào)和分析數(shù)據(jù)等信息,提升產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性的一種綜合性技術(shù)。目前集成電路產(chǎn)品已廣泛應(yīng)用于電子信息行業(yè)的方方面面,通過測(cè)試對(duì)產(chǎn)品性能參數(shù)予以有效把控,進(jìn)而保障產(chǎn)品質(zhì)量和性能。(剩余3508字)
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集成電路測(cè)試行業(yè)現(xiàn)狀分析及建議
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