致密砂巖碳酸鹽礦物SEM?CL 和EPMA 礦物學(xué)表征及其成巖意義

——以川西坳陷須家河組為例

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摘 要 掃描電鏡—陰極發(fā)光（SEM-CL）可通過同時(shí)分析礦物的微觀結(jié)構(gòu)和陰極發(fā)光特性來反映成巖機(jī)制及流體來源，但碳酸鹽礦物在SEM-CL下的發(fā)光特性及其影響因素尚不明確。應(yīng)用光學(xué)顯微鏡陰極發(fā)光（OM-CL）、電子探針（EPMA）和SEM-CL等技術(shù)手段，以川西坳陷須家河組致密砂巖中碳酸鹽礦物為研究對象，分析碳酸鹽礦物在OM-CL和SEM-CL下發(fā)光特性的差異，評估影響碳酸鹽礦物SEM-CL發(fā)光特性的因素，探討砂巖中方解石膠結(jié)物的成巖意義。（剩余16350字）