基于大核分離和通道先驗(yàn)卷積注意的PCB缺陷檢測方法

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收稿日期：2024-01-17責(zé)任編輯：王建青

基金項(xiàng)目：國家自然科學(xué)基金資助項(xiàng)目（52271341）；天津市科技計(jì)劃項(xiàng)目（24YDTPJC00410）；河北省高等學(xué)校科學(xué)技術(shù)研究項(xiàng)目（ZD2021037）；江蘇省重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室對外開放課題資助項(xiàng)目（zdsys2019-11）

作者簡介： 李揚(yáng)（1985-），男，天津人，博士研究生，講師，主要研究方向?yàn)橛?jì)算機(jī)視覺技術(shù)、無損檢測；*通信作者：陳偉（1980-），女，河北秦皇島人，博士，教授，主要研究方向?yàn)閿?shù)據(jù)挖掘、人工智能，Email： [email protected]。（剩余16452字）